ГОЛОВНА

Вибачте за тимчасові незручності, сторинка знаходиться у стані розробки.

Центр колективного користування науковими приладами (ЦККП) „Скануюча електронна мікроскопія і мікроаналіз (СЕММА) ” /англ. абр. СЕММА - Center of Microscopy & MicroAnalysis/ створено на базі Інституту надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України з метою найбільш раціонального використання унікального та коштовного сучасного скануючого електронного мікроскопа ZEISS EVO 50XVP виробництва фірми ZEISS, укомплектованого енергодисперсійним аналізатором рентгенівських спектрів INCA450 з детектором INCAPentаFETx3 та системою HKL CHANNEL-5 для дифракції відбитих електронів  виробництва фірми OXFORD.

Детальніше про обладнання та вимоги до зразків.

Наказом директора Інституту надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України керівником центру призначений завідувач лабораторії кристалофізичних досліджень, к.ф-м.н. Гонтар Олександр Григорович.

Положення про створення центру.

Фотогалерея

НОВИНИ

Научно-практический семинар “Системы анализа картин дифракции отраженных электронов Oxford Instruments на базе электронных микроскопов Carl Zeiss для текстурного и фазового анализа металлов и сплавов”

We invite you to see pictures from seminar

КОНТАКТИ

Керівник центру

Завідувач лабораторії кристалофізичних досліджень, кандидат фізико-математичних наук. Гонтар Олександр Григорович

Тел./факс: 044-467-66-42;       E-mail: gontar@ism.kiev.ua

web: http://www.ism.kiev.ua

Головний спеціаліст  центру

Старший науковий співробітник, кандидат фізико-математичних наук

Ткач Василь Миколайович

Тел.:  044 -432-99-32;  E-mail: tkach@ism.kiev.ua