Лабораторія № 14/2 Наноструктурних, кристалографічних досліджень і спектрального аналізу (з Центром колективного використання "СЕММА")
|
ТКАЧ Василь МиколайовичДоктор фізико-математичних наук, зав. лабораторією телефон:(044) 432-99-32 |
Основний науковий напрямок
Вагомим досягненням лабораторії є розробка наукових основ застосування електронної дифракції зворотного розсіяння електронів (Кікучі дифракції) для вивчення структурних і орієнтаційних характеристик полікристалічних матеріалів.
Вивчення структури і спектральних характеристик надтвердих моно і полікристалічних матеріалів. Забезпечення роботи центру загального користування унікальними аналітичними приладами в НАН України.
Про лабораторію
Лабораторія є Центром колективного користування приладами НАН України - дослідження поверхні матеріалів з використанням методів сучасної растрової електронної мікроскопії, рентгеноспектрального аналізу, дифракція відбитих електронів і аналізу оптичних спектрів з використанням ІЧ Фур"є - спектрометрії.
Основним напрямом діяльності лабораторії є вивчення надтвердих моно-и полікристалічних матеріалів, а також діагностика інструментів з полікристалічних надтвердих матеріалів. Колектив лабораторії працює над виконанням завдань науково-дослідницької тематики ІНМ ім. В.М. Бакуля НАН України, установ НАН України, і надає послуги іншим організаціям різних відомств при проведенні робіт з пріоритетних фундаментальних досліджень і прикладних розробок. У складі лабораторії структурно функціонує три групи: растрової електронної мікроскопії і рентгеноспектрального аналізу, оптичної спектроскопії, а також технологічна група з нанесення вуглецевих покриттів.
Для вивчення властивостей і характеристик досліджуваних матеріалів в лабораторії апаратно забезпечені і застосовуються методи скануючої електронної мікроскопії (СЕМ), енергодисперсійного рентгеноспектрального аналізу, еліпсометрії і ультрафіолетової (УФ) - видимої - інфрачервоної (ІЧ) спектроскопії. Також в лабораторії проводяться дослідження із залученням ІЧ спектрального картографування, порушеного повного внутрішнього відображення, ІЧ мікроспектроскопії, катодолюмінісцентної та оптичної мікроскопії. Вагомим досягненням лабораторії є розробка наукових основ застосування електронної дифракції зворотного розсіяння електронів (Кикучі дифракції) для вивчення структурних і орієнтаційних характеристик полікристалічних матеріалів.
У лабораторії розроблена технологія отримання вуглецевих алмазоподібних аморфних плівкових конденсатів і плазмохімічної обробки і модифікації поверхневих шарів різних матеріалів методом хімічного осадження з газової фази (ХОГФ).
На базі лабораторії із залученням фахівців Zeiss і Oxford регулярно проводяться науково-практичні семінари для науковців України.