"Інститут надтвердих матеріалів" Положення
Головна
Ювілеї
Про Нас
Новини
Історія
Наука
Захист дисертацій
Видання
Результати
Вакансії
+ Відділи : Відділ №1
Відділ №3
Відділ №4
Відділ №6
Відділ №7
Відділ №9
Відділ №11
Відділ №13
Відділ №14
Відділ №18
Відділ №20
Відділ №22
Рада молодих вчених
Науково-організаційний відділ
Керівництво Інституту
АЛКОН
Виробництво
Інвестиції
Міжвідомча рада
Інформація по закупівлях на 2016 рік
e-mail
"СВЕРХТВЁРДЫЕ МАТЕРИАЛЫ"
Бібліотека
XX Міжнародна конференція
Обладнання центру
Положення
Контакти
Порядок оформлення заявок

ПОЛОЖЕННЯ про центр колективного користування науковими приладами
“Скануюча електронна мікроскопія і мікроаналіз”

1. Загальні положення:

1.1. Центр колективного користування науковими приладами (ЦККП) „Скануюча електронна мікроскопія і мікроаналіз (СЕММА) ” /англ. абр. СЕММА - Center of Microscopy & MicroAnalysis/ створено на базі Інституту надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України з метою найбільш раціонального використання унікального та коштовного сучасного скануючого електронного мікроскопа ZEISS EVO 50XVP виробництва фірми ZEISS, укомплектованого енергодисперсійним аналізатором рентгенівських спектрів INCAPenteFETx3 та системою HKL CHANNEL-5 для дифракції електронів виробництва фірми OXFORD.

1.2. Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАНУ має всі можливості забезпечити умови колективного користування приладом: спеціалізоване приміщення, контрольно-вимірювальні прилади, INTERNET-мережу, фахівців та досвід проведення досліджень на подібному обладнанні.

1.3. Центр „Скануюча електронна мікроскопія і мікроаналіз” бере на себе зобов`язання забезпечити якісну та безперервну роботу придбаного Приладу, його відповідне фахове обслуговування, умови ефективного його використання.

2. Структура, головні завдання і організація роботи Центру:

2.1. Центр є надбанням Національної академії наук України. Прилад перебуває на балансі Інституту надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України.

2.2. Центр входить до складу наукового підрозділу (відділ 13/2) Інституту надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАНУ і підпорядкований безпосередньо дирекції Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАНУ, без статусу юридичної особи. Центр має назву „Скануюча електронна мікроскопія і мікроаналіз ”, яка разом з Положенням про центр затверджена комісією з питань модернізації парку наукових приладів та обладнання Президії НАН України (Комісія).

2.3. Головним завданням Центру є надання науковцям НАН України можливості проводити дослідження на Приладі, який обслуговується кваліфікованим персоналом, здатним підтримувати його в режимі оптимального функціювання, та отримувати консультативні послуги.

2.4. Наказом директора Інституту надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України керівником центру призначений завідувач лабораторії кристалофізичних досліджень к.ф-м.н. Гонтар Олександр Григорович. Наукове керівництво роботою Центру покладено на директора Інституту надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України академіка НАН України Новікова Миколу Васильовича.

2.5. Інститут не менше одного разу на рік звітує про роботу Центру перед Бюро Відділення фізико-технічних проблем матеріалознавства НАН України, а також, у разі необхідності, перед Комісією. В загальному річному звіті дані про роботу Центру подаються Інститутом окремим розділом в паперовому та електронному вигляді до Президії НАН України, Бюро Відділення фізико-технічних проблем матеріалознавства та до Комісії з питань модернізації парку наукових приладів та обладнання Президії НАН України.

3. Порядок надання послуг:

3.1. Інформація про Центр колективного користування науковими приладами „ Скануюча електронна мікроскопія і мікроаналіз ” (тип Приладу, основні технічні характеристики та головні напрями досліджень, які можна здійснити на Приладі, наданому для колективного користування) міститься на web-сторінках Інституту надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля (http://www.ism.kiev.ua) та Президії НАН України(http://www.nas.gov.ua).

3.2. Наукові установи та організації НАН України, які мають потребу в проведенні досліджень на скануючому електронному мікроскопі ZEISS EVO 50XVP ЦКК, два рази на рік до 15 січня і до 15 червня подають у письмовому вигляді до Бюро Відділення фізико-технічних проблем матеріалознавства НАН України заявки на кількість годин, строки та види досліджень, що потребують використання зазначеного Приладу.

3.3. Бюро Відділення фізико-технічних проблем матеріалознавства НАН України за поданням директора Інституту надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України затверджує загальний розподіл між замовниками робочого часу, відведеного для колективного користування скануючим електронним мікроскопом ZEISS EVO 50XVP.

3.4. Директор Інституту надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України своїм наказом, узгодженим з Бюро Відділення фізико-технічних проблем матеріалознавства НАН України, затверджуе графік роботи Центру, встановлює кількість робочих змін на робочий день з урахуванням режиму роботи Інституту надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України і потреб вчених НАН України у використанні Приладу.

3.5. При плануванні часу роботи Центру дирекція керується пропорціями, вказаними в розпорядженні Президії НАН України №322 від 28.04.2004р. Для зручності колективного користування та в зв`язку з оптимальним використанням технічного ресурсу приладу і раціональної організації робочого часу працівників Центру встановлено наступний розподіл робочого часу. При роботі в одну зміну (8 годин робочого часу) З години надається для потреб базової наукової установи Центру - Інституту надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля , 3 години надається для замовників - інших наукових установ та організацій НАН України, 2 години може бути надано для платного використання обладнання Центру іншим установам, які не перебувають у віданні НАН України, згідно з чинним законодавством.

3.6. Використання часу роботи скануючого електронного мікроскопа ZEISS EVO 50XVP реєструється в журналах, форма заповнення яких встановлюється Комісією.

3.7. При плануванні використання часу роботи Приладу з іншим співвідношенням часу для власних потреб та платних послуг дирекція виходить з того, що час безкоштовного колективного користування Приладом залишається незмінним.

3.8. Платні послуги з використанням Приладу Центру НАН України для потреб інших замовників надаються згідно з чинним законодавством України.

3.9. В друкованих працях з використанням даних, отриманих на обладнанні ЦКК «Скануюча електронна мікроскопія і мікроаналіз» замовник, окрім прямого посилання де і в який спосіб було отримано дані, зобов`язаний на загальному рівні дотримуватися авторських прав.

4. Порядок оформлення заявок

4.1. Наукові організації та установи НАН України, які мають потребу в проведенні досліджень у ЦККП «Скануюча електронна мікроскопія і мікроаналіз» заздалегідь (за 1-2 міс) до встановлених термінів подають керівнику центру заявку встановленого зразка з описом типу, класу сполук, що будуть аналізуватися, кількістю зразків та обґрунтуванням наукової проблематики.

4.2. Замовник та Виконавець укладають угоду про проведення робіт на обладнанні ЦККП «Скануюча електронна мікроскопія і мікроаналіз».

4.3. Надання (відшкодування) витратних матеріалів забезпечується замовниками згідно з розрахунком разового циклу аналітичних робіт, пробопідготовки та амортизаційних витрат.

4.4. Форми заявки можна прочитати тут або скачати тут

5. Зміна базової установи, закриття Центру:

5.1 У разі недотримання вимог цього Положення, неналежної організації роботи Центру з боку Інституту надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України із забезпечення колективного користування скануючим електронним мікроскопом ZEISS EVO 50XVP для потреб науковців НАН України або виникнення інших форс-мажорних обставин Бюро Відділення фізико-технічних проблем матеріалознавства НАН України подає Комісії пропозиції щодо передачі закріпленого за Центром мікроскопу ZEISS EVO 50XVP іншій науковій Установі НАН України з відповідною зміною назви Центру і місця його розташування.

5.2 Комісія з питань модернізації парку наукових приладів та обладнання Президії НАН України розглядає пропозиції Відділення фізико-технічних проблем матеріалознавства НАН України згідно з розділами 1 і 2 цього Положення, приймає рішення про зміну базової наукової установи або закриття Центру і подає його на затвердження Президії НАН України.

5.3. Адреса та контактні телефони ЦККП «СЕММА»:

Національна Академія наук України

Інститут надтвердих матеріалів ім. В.Бакуля

Україна 04074, Київ-74,

вул. Автозаводська, 2

тел.: +38 (044) 468 8632; 432 9932

E-mail: gontar@ism.kiev.ua

web: http://www.ism.kiev.ua

 

 

National Academy of Sciencesof Ukraine

V.Bakul Institute for Superhard Materials

2, Avtozavodska St.,

Kyiv, 04074, Ukraine

Tel/fax: +38 (044) 468 8632; 432 9932

E-mail: gontar@ism.kiev.ua

Web site of ISM: http://www.ism.kiev.ua

На головну

Інформація про заходи ІНМ, що заплановані на 2017 рік
ВАЛЕНТИН НИКОЛАЕВИЧ БАКУЛЬ – ТВОРЕЦ И СОЗИДАТЕЛЬ


Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України Україна, 04074, Київ, вул.Автозаводська, 2;
Тел.: (+38 044) 468-86-40 Факс: 468-86-25 www.ism.kiev.ua Е-mail: alcon@ism.kiev.ua