"Інститут надтвердих матеріалів" Обладнання центру
Головна
Про Нас
Новини
Історія
Наука
Захист дисертацій
Аспірантура
Видання
Результати
Вакансії
+ Відділи : Відділ №1
Відділ №3
Відділ №4
Відділ №6
Відділ №7
Відділ №9
Відділ №11
Відділ №13
Відділ №14
Відділ №18
Відділ №20
Відділ №22
Рада молодих вчених
Науково-організаційний відділ
Керівництво Інституту
Профспілка
АЛКОН
Виробництво
Інвестиції
НАЙБІЛЬШ ВАГОМІ НАУКОВІ РЕЗУЛЬТАТИ ІНСТИТУТУ
Інформація по держ. закупівлях
e-mail
Пошукова система
"Надтверді матеріали"
Бібліотека
XXIII Міжнародна конференція
XI конференція молодих вчених та спеціалістів
Обладнання центру
Положення
Контакти
Порядок оформлення заявок

Центр колективного користування науковими приладами

Центр колективного користування науковими приладами (ЦККНП) Аналітичний центр дослідження та нанодіагностики матеріалів -  створено на базі Інституту надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України з метою найбільш раціонального використання унікального та коштовного сучасного скануючого електронного мікроскопа ZEISS EVO 50XVP виробництва фірми ZEISS, укомплектованого енергодисперсійним аналізатором рентгенівських спектрів INCA450 з детектором INCAPentаFETx3 та системою HKL CHANNEL-5 для дифракції відбитих електронів виробництва фірми OXFORD.

 

 ПОЛОЖЕННЯ ПРО ЦККНП "АНАЛІТИЧНИЙ ЦЕНТР ДОСЛІДЖЕННЯ ТА НАНОДІАГНОСТИКИ МАТЕРІАЛІВ"

 

 

ОБЛАДНАННЯ ЦЕНТРУ

 1.        Сканувальний електронний мікроскоп ZEISS EVO 50 XVP (CarlZeiss, Німеччина)

 

Основні технічні характеристики растрового електронного мікроскопу

ZEISS EVO 50XVP  
Просторова роздільна здатність при 30 кВ: катод LaB6    2 нм;
  катод W      3 нм;
Прискорююча напруга діапазон: 0.2 – 30 кВ;
Струм зонду діапазон: 1 рА – 3 mА;
Стабільність електронного пучка краща 0.2 %/ч.

 

Збільшення від 5 до 1 000 000х, неперервно змінюється у режимах грубого та точного регулювання

Калібровка: відображає збільшення, точно скореговане для внесення змін на документуючому пристрої

Камера зразків:
розміри: внутрішній діаметр 220 мм, висота 120 мм.

Аналітична робоча відстань від 5 до 20 мм. Оптимальна - 14,5 мм.

Предметний столик для зразків:
5-осний, евцентричний; контролюється програмно з графічного інтерфейсу GUI SmartSEMTM, керується при допомозі блоку з подвійним джойстиком.

Діапазон переміщень: X = 125 мм; Y = 125 мм; Z = 50 мм; Т = 0 – 90 0 ; R= 3600, неперервно.

Детектори у камері:

а) SE-детектор вторинних електронів Еверхарта-Торнлі

б) Відеокамера з ІЧ-освітленням

в) Високочутливий 4-квадрантний фазовий СZ BSD-детектор

г) Детектор вторинних електронів для роботи при низькому вакуумі та отримання топограм катодолюмінесценції.

 

 Аналітичні пристрої:

 

-          Енергодисперсійний аналізатор рентгенівских спектрів Ultim Max 100 (Oxford) , що працює з енергодисперсійним спектрометром Aztec live Automate. Роздільна здатність детектора становить 127 еВ на лінії Mn K al , 64 еВ на лінії F K al , 56 еВ на лінії C K al та швидкість рахування 130 000 імп/сек.. Кількісне визначення елементного складу у пробі від бору до урану з чутливістю до 0,1% мас. в локальних ділянках 0,1 мкм2 ;

-          Детектор пружно відбитих електронів HKL Channel 5 (Oxford) для отримання дифракційної картини з області більшої 100 нм при визначенні міжплощинних віддалей та дослідженні пружно-деформованого стану гратки нанокристалів.

  

Вимоги до підготовки зразків

 

-          При завантаженні у камеру одночасно кількох проб, необхідно відбирати зразки однакової висоти;

-          При виконанні кількісного рентгеноспектрального аналізу шорсткість поверхні не повинна перевищувати 1 мкм (шліф металографічної якості без додаткового травлення поверхні);

 

2.        Інфрачервоний Фур"є- спектрометр Nicolet 6700 та мікроскоп Nicolet Continuum (Thermo Fisher Scientific, США)

 

Основні технічні характеристики спектрометра Nicolet 6700:   

  • повний спектральний діапазон 25000 - 50 см-1 (0,4 – 200 мкм);
  •  робочі діапазони, які відповідають окремим конфігураціям джерело/світлоподільник/детектор, ближня ІЧ область – 25000-8500 см-1, середня – 7400-600 см-1, дальня 600-50  см-1;
  • роздільна здатність до 0,09 см-1, типова -- 1 см-1;
  • розмір діафрагми для зразка – 1 см;
  • система автоматичної діагностики всіх блоків приладу в поточному режимі.

 

Режими вимірювання:

  • -          пропускання/поглинання (стандартний режим) з аналітичною областю 10 мм;
  • -          конденсатор пучка (приставка) зменшує аналітичну область до міліметру;
  • -          порушене повне внутрішнє відбивання (ATR приставка) - дозволяє реалізувати експрес-метод дослідження, який особливо корисний при вивченні об’єктів із високим поглинанням (від порошків до твердосплавних пластин;
  • -          дифузне розсіювання (приставка);дзеркальне відбивання (приставка) з діапазоном кутів падіння: 30° - 85°. 

 

Основні технічні характеристики мікроскопа Nicolet Continuum:

  • спектральний діапазон 7400-500 см-1;
  • різні режими вимірювання – пропускання/поглинання, порушене повне внутрішнє відбивання (ATR), дзеркальне відбивання (нормальне падіння);
  • наявність моторизованого предметного столу дозволяє реалізувати картографування зразку за поглинанням або відбиванням з аналітичною областю до 5х5 мкм, типова – 100х100 мкм.

 

  

3.        УФ - Вид спектрофотометр Spekol 1500 (Analytik Jena AG, Німеччина)

 

Спектрофотометр застосовується для вимірювання коефіцієнта пропускання і оптичної густини твердих, рідких і газоподібних проб в ультрафіолетовому та видимому спектральному діапазоні 190-1100 нм. Керування роботою може здійснюватися із комп’ютера, збереження результатів вимірювання та обробка даних виконується в програмі WinASPECT.

   
   

 

 

 

 

 

 

На головну

Інформація про заходи до 60-річчя Інституту
ВАЛЕНТИН НИКОЛАЕВИЧ БАКУЛЬ – ТВОРЕЦ И СОЗИДАТЕЛЬ


Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України Україна, 04074, Київ, вул.Автозаводська, 2;
Тел.: (+38 044) 468-86-40 Факс: 468-86-25 www.ism.kiev.ua Е-mail: alcon@ism.kiev.ua