"Інститут надтвердих матеріалів" Обладнання центру
Головна
Про Нас
Новини
Історія
Наука
Захист дисертацій
Аспірантура
Видання
Результати
Вакансії
+ Відділи : Відділ №1
Відділ №3
Відділ №4
Відділ №6
Відділ №7
Відділ №9
Відділ №11
Відділ №13
Відділ №14
Відділ №18
Відділ №20
Відділ №22
Рада молодих вчених
Науково-організаційний відділ
Керівництво Інституту
Профспілка
АЛКОН
Виробництво
Інвестиції
НАЙБІЛЬШ ВАГОМІ НАУКОВІ РЕЗУЛЬТАТИ ІНСТИТУТУ
Інформація по держ. закупівлях
e-mail
Пошукова система
"Надтверді матеріали"
Бібліотека
XXIII Міжнародна конференція
XI конференція молодих вчених та спеціалістів
Обладнання центру
Контакти Центру
Порядок оформлення заявок

Центр колективного користування науковими приладами

 

Центр колективного користування науковими приладами (ЦККНП) „Аналітичний центр дослідження та нанодіагностики матеріалів” створено на базі Інституту надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України. 

 ПОЛОЖЕННЯ ПРО ЦККНП "АНАЛІТИЧНИЙ ЦЕНТР ДОСЛІДЖЕННЯ ТА НАНОДІАГНОСТИКИ МАТЕРІАЛІВ" 

 Наші співробітники

 

ОБЛАДНАННЯ ЦЕНТРУ

 1. Сканувальний електронний мікроскоп ZEISS EVO 50 XVP (CarlZeiss, Німеччина)

 

Основні технічні характеристики растрового електронного мікроскопу

 

 Електронний мікроскоп ZEISS EVO 50 XVP, укомплектований аналізатором рентгенівських спектрів Ultim Max 100 (Oxford Instruments) та детектором дифракції відбитих електронів. HKL CHANNEL 5. Збільшення змінюється в межах від 5х до 1 000 000х. 

Базові технічні характеристики сканувального електронного мікроскопу:

Просторова роздільна здатність при 30 кВ: катод LaB6    2 нм;
  катод W      3 нм;
Прискорююча напруга діапазон: 0.2 – 30 кВ;
Струм зонду діапазон: 1 рА – 3 mА;
Стабільність електронного пучка краща 0.2 %/ч.

 

Детектори, наявні у камері мікроскопу: 

-          SE-детектор вторинних електронів Еверхарта-Торнлі;

-          Відеокамера з ІЧ-освітленням;

-          Високочутливий 4-квадрантний фазовий СZ BSD-детектор;

-          Детектор вторинних електронів для роботи при низькому вакуумі та отримання топограм катодолюмінесценції.

 

 Аналітичні пристрої: 

-          Енергодисперсійний аналізатор рентгенівских спектрів Ultim Max 100 (Oxford) , що працює з енергодисперсійним спектрометром Aztec live Automate. Роздільна здатність детектора становить 127 еВ на лінії Mn K al , 64 еВ на лінії F K al , 56 еВ на лінії C K al та швидкість рахування 130 000 імп/сек.. Кількісне визначення елементного складу у пробі від бору до урану з чутливістю до 0,1% мас. в локальних ділянках 0,1 мкм2 ;

-          Детектор пружно відбитих електронів HKL Channel 5 (Oxford) для отримання дифракційної картини з області більшої 100 нм при визначенні міжплощинних віддалей та дослідженні пружно-деформованого стану гратки нанокристалів.

 

Вимоги до підготовки зразків: 

-          При завантаженні у камеру одночасно кількох проб, необхідно відбирати зразки однакової висоти;

-          При виконанні кількісного рентгеноспектрального аналізу шорсткість поверхні не повинна перевищувати 1 мкм (шліф металографічної якості без додаткового травлення поверхні);

-          Для дослідження пружно-деформованого стану гратки масивних монокристалів та нанокристалів у твердотільній матриці поверхня зразка полірується, поверхневий порушений шар знімається хімічним способом, електрополіровкою чи іонним травленням.

 

2. Інфрачервоний Фур`є- спектрометр Nicolet 6700 та мікроскоп Nicolet Continuum (Thermo Fisher Scientific, США)

 

 

Основні технічні характеристики спектрометра Nicolet 6700:   

  • повний спектральний діапазон 25000 - 50 см-1 (0,4 – 200 мкм);
  •  робочі діапазони, які відповідають окремим конфігураціям джерело/світлоподільник/детектор, ближня ІЧ область – 25000-8500 см-1, середня – 7400-600 см-1, дальня 600-50  см-1;
  • роздільна здатність до 0,09 см-1, типова -- 1 см-1;
  • розмір діафрагми для зразка – 1 см;
  • система автоматичної діагностики всіх блоків приладу в поточному режимі.

 

Режими вимірювання:

  • -          пропускання/поглинання (стандартний режим) з аналітичною областю 10 мм;
  • -          конденсатор пучка (приставка) зменшує аналітичну область до міліметру;
  • -          порушене повне внутрішнє відбивання (ATR приставка) - дозволяє реалізувати експрес-метод дослідження, який особливо корисний при вивченні об’єктів із високим поглинанням (від порошків до твердосплавних пластин;
  • -          дифузне розсіювання (приставка);дзеркальне відбивання (приставка) з діапазоном кутів падіння: 30° - 85°. 

  

Основні технічні характеристики мікроскопа Nicolet Continuum:

  • спектральний діапазон 7400-500 см-1;
  • різні режими вимірювання – пропускання/поглинання, порушене повне внутрішнє відбивання (ATR), дзеркальне відбивання (нормальне падіння);
  • наявність моторизованого предметного столу дозволяє реалізувати картографування зразку за поглинанням або відбиванням з аналітичною областю до 5х5 мкм, типова – 100х100 мкм. 

  

3. Ультрафіолетовий-видимий спектрофотометр Spekol 1500 (Analytik Jena AG, Німеччина)

 

   
   

 Спектрофотометр застосовується для вимірювання коефіцієнта пропускання і оптичної густини твердих, рідких і газоподібних проб в ультрафіолетовому та видимому спектральному діапазоні 190-1100 нм. Керування роботою може здійснюватися із комп’ютера, збереження результатів вимірювання та обробка даних виконується в програмі WinASPECT.

 

 

 

 

 

На головну

Інформація про заходи до 60-річчя Інституту
ВАЛЕНТИН НИКОЛАЕВИЧ БАКУЛЬ – ТВОРЕЦ И СОЗИДАТЕЛЬ


Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України Україна, 04074, Київ, вул.Автозаводська, 2;
Тел.: (+38 044) 468-86-40 Факс: 468-86-25 www.ism.kiev.ua Е-mail: alcon@ism.kiev.ua